반도체 디바이스를 검사하기 위한 테스트 콘택터 (TEST CONTACTOR FOR INSPECTING A SEMICONDUCT… 페이지 정보 목록 지적 재산권 정보 구분 10 출원번호 10-2019-0150793 출원인 (재)한국나노기술원 출원일 2019.11.21 발명의 명칭 반도체 디바이스를 검사하기 위한 테스트 콘택터 (TEST CONTACTOR FOR INSPECTING A SEMICONDUCTOR DEVICE) 과제정보 기준년도 과제고유번호 10062341 주관연구기관 한국산업기술평가관리원 세부과제번호 과제명 Long life time(30만회) 및 high speed (20 GHz) 구현을 위한 EPI(Embedded Power Integrity)급 MEMS 필름을 부착한 fine pitch (150 um) wire rubber type test socket 기술 개발 판매 희망 기술 정보 기술명 반도체 디바이스를 검사하기 위한 테스트 콘택터 (TEST CONTACTOR FOR INSPECTING A SEMICONDUCTOR DEVICE) 산업기술분류 전기ㆍ전자 -> 반도체장비 -> 측정/검사 장비 과학기술분류 전기/전자(Electricity and Electronics) -> 반도체장비(Semiconductor Equipment) -> 측정/검사장비(Measurement/test equipment) 기술요약정보 기술키워드 #반도체 #검사용 콘택터 #전기적 기술개요및특징 본 발명의 실시예에 따른 반도체 디바이스 검사용 콘택터는, 반도체 디바이스와 전기적으로 연결되며, 도전성 겔 로 이루어진 도전부; 및 상기 도전부를 둘러싸도록 형성되어 상기 도전부를 지지하는 절연성 지지부를 포함한다. 기술개발상태 응용분야 사업화적용 실적 도입시 고려사항 이전정보 희망이전유형 기술이전조건 기술이전금액 판매자정보 이름 최경관 소속회사명 (재)테크노파크 전화번호 031-500-3037 휴대전화번호 이메일 kkchoi@gtp.or.kr 연구개발자 정보 이름 전동환, 김성수 소속회사명 전화번호 휴대전화번호 이메일 기술관련자료 정보 대표이미지 기술관련자료 이전글질염의 진단을 위한 진단 키트 (DIAGNOSTIC KIT FOR DIAGNOSING VAGINITIS) 24.05.17 다음글가변 초점을 제공하기 위한 하이브리드형 렌즈 및 안경 (HYBRID TYPE LENS AND GLASSES FOR PROVIDING VARIFOCAL) 24.05.17 우수기술 Gyeonggi Technology Market 반도체소자및이의제조방법 다파장 광 검출기 및 이의 제조 방법 유연 자기 센서 제조방법 및 이에 의해 제조된 유연 자기 센서 스트레인 게이지 및 이를 포함하는 로드 셀 모듈 광 센서 패키지 및 어레이 장치 수평 에피택시 성장을 이용하여 수직으로 적층된 나노와이어 채널을 갖는 전계효과 트랜지스터 제조방법 질화갈륨계 반도체 구조물 및 이의 제조 방법 원자층 증착 장치 게이트 올 어라운드 채널을 갖는 반도체 소자의 제조 방법 플렉서블 태양전지 모듈의 제조방법 및 이를 이용하여 제조된 플렉서블 태양전지 모듈 이메일무단수집을 거부합니다 본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나 그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수접되는 것을 거부하며, 이를 위반 시 정보통신망법에 의해 형사처벌됨을 유념하시기 바랍니다. 정보통신망이용촉진및보호등에관한법률 제50조의2(정자우편주소의 무단 수집행위 등 금지)
