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유기 발광 표시 장치의 제조 방법

본 발명에 따른 유기 발광 표시 장치는 기판, 기판 위에 위치하는 입자층, 입자층 위에 위치하는 제1 전극, 제1전극 위에 형성되어 있는 발광층, 발광층 위에 형성되어 있는 제2 전극을 포함하고, 입자층은 복수의 입자 부재,입자 부재 사이를 채우는 채움 부재를 포함하고, 입자 부재와 채움 부재는 서로 다른 굴절율을 가지는 기술임.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :

유기 발광 표시 장치의 제조 방법

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
표시 장치용 차광층 및 이의 형성 방법

본 발명은 잉크 번짐 현상을 억제하여 서브 픽셀들의 패턴 정밀도를 높이고 서브 픽셀들의 혼색을 방지할 수 있는 표시 장치용 차광층 및 이의 형성 방법에 관한 것임.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :

표시 장치용 차광층 및 이의 형성 방법

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
판상형 구조의 나노박막과 기판 사이의 신뢰성 향상 장치

판상형 구조의 나노박막과 기판 사이의 신뢰성 향상 장치 및 방법에 관한 것임.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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판상형 구조의 나노박막과 기판 사이의 신뢰성 향상 장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
필터형 전극을 갖는 세포의 임피던스 측정장치 및 그 장치의 제조방법

필터형 전극을 갖는 세포의 임피던스 측정장치 및 그 장치의 제조방법에 관한 기술

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :

필터형 전극을 갖는 세포의 임피던스 측정장치 및 그 장치의 제조방법

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
미소 시험편 축 정렬 장치

미소 시험편 축 정렬 장치에 관한 기술

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :

미소 시험편 축 정렬 장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
그래핀 발광 장치

본 발명은 그래핀 발광 장치에 관한 것임

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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그래핀 발광 장치

기술분야 : 기계

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지식재산권 :
대면적 연속 면저항 측정장치

본 발명은 하나 이상의 회전체를 포함하는 회전부, 회전체의 표면에 형성되어 박막과 접촉하는 접촉부 및 접촉부와 전기적으로 연결되어 접촉부와 박막이 접촉하는 부분의 접촉 저항을 전달받는 면저항 측정부를 포함하는 대면적 연속 면저항 측정장치에 관한 것이다.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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대면적 연속 면저항 측정장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
능동탈부착 chuck

본 발명은 나노 구조물을 변형없이 자유롭게 탈부착할 수 있는 척에 관한 것

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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능동탈부착 chuck

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
미세피치 전송선로의 신호 전달특성 측정 장치

본 발명의 일 측면은 시편을 수평 상태 또는 수직 상태에서 전송선로의 신호 전달특성의 측정을 가능하게 하는 미세피치 전송선로의 신호 전달특성 측정장치를 제공하는 것이다.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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미세피치 전송선로의 신호 전달특성 측정 장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
프로브카드의 전기적 전달특성 측정을 위한 프로브카드 고정장치

본 발명의 일 실시예는 피측정부, 즉 ZIF커넥터 및 프로브카드팁을 양면에 구비한 프로브카드의 전기적 전달특성을 측정할 수 있도록 프로브카드를 고정하는, 프로브카드의 전기적 전달특성 측정을 위한 프로브카드 고정장치에 관한 것이다.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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프로브카드의 전기적 전달특성 측정을 위한 프로브카드 고정장치

기술분야 : 기계

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지식재산권 :
계층화된 구조물 및 그 제조 방법

본 발명은 계층화 구조물 및 그 제조 방법에 관한 것임

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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계층화된 구조물 및 그 제조 방법

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
카본 나노 튜브가 코팅된 미세 접촉 프로브

본 발명은 프로브 카드(probe card)에 사용되는 미세 접촉 프로브에 관한 것임

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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카본 나노 튜브가 코팅된 미세 접촉 프로브

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

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지식재산권 :
벨로우즈 형상의 캔틸레버 프로브

본 발명은 프로브 카드(probe card)에 사용되는 벨로우즈 형상을 가진 캔틸레버형 미세 접촉 프로브에 관한 것임

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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벨로우즈 형상의 캔틸레버 프로브

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
자유지지 박막 시험기

본 발명은 자유지지 박막 시험기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 고정판에 미세기계전자시스템 및 나노기술에 사용되는 마이크로 또는 나노 스케일의 크기를 갖는 자유지지 박막 시편을 고정한 후 자유지지 박막 시편의 위치를 정렬하여 기계적 물성값을 측정하기 위한 자유지지 박막 시험기에 관한 것이다.

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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자유지지 박막 시험기

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

지식재산권 :
냉각성능 측정장치

분사노즐로부터 분사되는 냉각수에 의한 냉각성능을 측정하기 위한 냉각성능 측정장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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냉각성능 측정장치

기술분야 : 기계

기술유형 : 등록특허

거래유형 : 양도

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